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半导体探针在IC测试治具中起到什么作用

作者: 来源: 日期:2018/8/1 14:48:04 人气:458

  1、增强治具的耐用度

  IC测试探针的的设计使得其弹簧空间比常规探针的要大,所以能获得更长的寿命。

  2、不间断电接触设计

  行程超过有效行程(2/3行程)或者一般行程时都能够保持较低的接触阻抗,消除因探针造成的假性开路造成的误判。

  3、提高了测试精度

  IC测试针因为更加精细,通常直径都是0.58mm以下,总长不超过6毫米,所以能够达到同规格产品更好的精准度。


  IC测试冶具通用性高,只需更换颗粒限位框,即可测试尺寸不同的颗粒;采用超短进口双头探针设计,相比同类测试产品,可使IC和PCB之间的数据传输距离更短,从而保证测试结果更稳定,频率更高,DDR3系列最高频率可达2000MHz。

  测试治具制作好后存放治具制作房,且放置在治具的铁架上,并作好型号标识。

  当治具出现断针和老化时可换针维护继续使用。

  当治具出现损坏无法修复使用和客户变更不再使用的,可申请报废重新制作。

  治具领用由电测房负责人登记领用,用完后归还于治具房并做好交接。